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恒奧德HAD21B便攜式數(shù)字殘余應(yīng)力檢測(cè)儀原理測(cè)試方法

更新時(shí)間:2023-06-12點(diǎn)擊次數(shù):480

恒奧德HAD21B便攜式數(shù)字殘余應(yīng)力檢測(cè)儀原理測(cè)試方法

 

原理

 

  基于著名的布拉格方程2dsinθ=nλ :即定波長(zhǎng)的X射線照射到晶體材料上,相鄰兩個(gè)原子面衍射時(shí)的X射線光程差正好是波長(zhǎng)的整數(shù)倍。通過(guò)測(cè)量衍射角變化Δθ從而得到晶格間距變化Δd,根據(jù)胡克定律和彈性力學(xué)原理,計(jì)算出材料的殘余應(yīng)力。(X射線衍射法)

 

  盲孔法測(cè)量殘余應(yīng)力的原理如下圖所示,假設(shè)個(gè)各向同性材料上某區(qū)域內(nèi)存在般狀態(tài)的殘余應(yīng)力場(chǎng),在該區(qū)域表面上粘貼用應(yīng)變花,在應(yīng)變花中心打小孔,引起孔邊應(yīng)力釋放,從而在應(yīng)變花絲刪區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生釋放應(yīng)變

 

  測(cè)試方法

 

  機(jī)械方法(有損)目前用得是鉆孔法(盲孔法),其次還有針對(duì)定對(duì)象的環(huán)芯法。物理方法(無(wú)損)中用得是X射線衍射法,其他主要物理方法還有中子衍射法、磁性法和聲法。

 

  各種測(cè)試方法各有利弊,般都是取長(zhǎng)避短,選擇更適合件的測(cè)試方法。Sigmar殘余應(yīng)力檢測(cè)儀主要是采取盲孔法行測(cè)試,其他方法作為輔助手段。

 

  點(diǎn)

 

  自動(dòng)殘余應(yīng)力檢測(cè)儀為例,點(diǎn)如下:

 

  1.可自動(dòng)切換、分時(shí)測(cè)量3路靜態(tài)應(yīng)變

 

  2.彈性模量可設(shè)定,以測(cè)量各種材料的靜態(tài)應(yīng)力

 

  3.可消除打孔附加應(yīng)變的影響,自動(dòng)檢測(cè)、計(jì)算、并在液晶屏上顯示、記錄殘余應(yīng)力(σ1、σ2、θ)

 

  4.盲孔釋放系數(shù)可自動(dòng)計(jì)算。它不但適用于盲孔法應(yīng)變釋放系數(shù)AB已知的材料,對(duì)于盲孔法應(yīng)變釋放系數(shù)未知的材料也可通過(guò)相關(guān)的理論公式換算出較為準(zhǔn)確系數(shù),測(cè)出殘余應(yīng)力。事實(shí)上,大量的被測(cè)材料的A、B是未知的,是不方便或沒(méi)有用試驗(yàn)標(biāo)定的。若不考慮不同材料具有差別很大的A、B,殘余應(yīng)力的計(jì)算結(jié)果將錯(cuò)誤。由于不同材料的應(yīng)變釋放系數(shù)可能相差非常大,本自動(dòng)殘余應(yīng)力檢測(cè)儀用于A、B未知材料的殘余應(yīng)力測(cè)量非常方便、準(zhǔn)確

 

  5.USB接口,可用U盤(pán)向外界轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)或送入PC再處理

 

  6.可海量?jī)?chǔ)存測(cè)量結(jié)果,并方便地列表、查詢(xún)、打印

 

  7.內(nèi)嵌打印機(jī),在線打印結(jié)果,如:主應(yīng)力σ1、σ2及主應(yīng)力方向θ

 

  8.應(yīng)變片靈敏度可設(shè)置

 

  9.泊松比、釋放系數(shù)等可設(shè)定

 

  10.可海量?jī)?chǔ)存測(cè)量結(jié)果,并方便地列表、查詢(xún)、打印

 

  11.采用5.7″單液晶屏及用人性化機(jī)殼,直觀、方便

 

  12.設(shè)備操作界面采用下拉式菜單,各種選項(xiàng)及件的材料參數(shù)的輸入或查詢(xún)?yōu)榉奖?/p>


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